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适用于极小间距和高频探测，广泛运用于芯片测试(CP)及最终测试(FT)中的AI 测试焊垫、金凸块、TAB 和 COF 技术。

ARES GAMMA-S 探针卡在晶圆分类测试中具备高性能和多点功能测试能力。其经过优化的高端设计可精准控制接触力，同时确保优异的平面度以支持晶圆高探针数测试。

 

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