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XingR芯卓
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采用高端MEMS技术设计,我们的探针卡为晶圆测试提供卓越的精度和效率,

特别适用于高并行性和细间距要求。

ARES

功能性探针卡

 

ARES

DDI

 

LCD 驱动

IC 测试探针卡

 

 实现极小间距和高频探测,广泛运用于芯片测试(CP)或最终测试(FT)中的AI 测试焊垫、金凸块、TAB 和 COF 技术。

 

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SIGMA

CIS

 

CMOS 传感器

测试探针卡 

 

集成摄像头镜头模块和光源的先进探针卡,在模拟条件下测试 CMOS 图像传感器,以实现高精度成像性能验证和优化。

 

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ZEUS

RF-MPC

 

 

高频/射频

  薄膜探针卡

 

支持高达40GHz的频率,并且适应最小80µm的凸点间距和50µm的焊盘间距,确保在高频和细间距应用中的卓越性能。

 

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使用寿命长 

多点测试能力

最大电性接触面积

ORION

M-POGO

 

MEMS 微机电

微间距弹簧针

 

采用先进MEMS技术,完美满足高频和细间距应用需求,支持高达 40GHz 的频率,并适应最小65µm微间距和40µm焊盘尺寸。

 

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使用寿命长

高电流密度和低电阻

高速 HSIF
 

PHOENIX

PBI / ML-ST 

多层微针模块接口

 

有机载板 MLO 

多层陶瓷MLC

空间转换器

 

 

低成本简化空间转换器,支持高密度互连,确保信号完整性和稳定性,并能根据不同的测试需求进行定制设计。

 

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高电流密度

多点测试能力

宽探针范围

 

ADONIS

MP-ACE

 

 

MEMS 导电胶

 

 

 

 

 

先进的导电胶采用独特的导电粒子排列技术,确保精确的电性连接,能够在高密度和细间距组件中提供稳定的信号传输

 

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使用寿命长

高电流密度

低接触电阻
IF

XingR 提供全领域应用的高阶探针卡!

 

 

无论您有特殊需求或需要全新设计,我们的专业团队都期待着您的挑战!

从设计仿真到成品测试,一站到位!

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